Serviciu de mentenanta pentru microscop electronic

SEAP

DA28931621

Data

05 Octombrie 2021

Valoare

131.000 RON

Stare

Oferta acceptata

Autoritatea contractanta

3321234 - Institutul National de Cercetare Dezvoltare pentru Fizica si Inginerie Nucleara "Horia Hulubei"

Localitate

Magurele, Ilfov

Furnizor

36738492 - S.C. NanoSystems MC S.R.L.

Tipul contractului

Servicii

Cod CPV

50430000-8 - Servicii de reparare si de intretinere a echipamentului de precizie (Rev.2)

Descriere:

Autoritatea contractantă dorește să achziționeze ”Serviciu de mentenanta pentru microscop electronic”, în conformitate cu cerințele și condițiile din caietul de sarcini si in conformitate cu clauzele contractuale din formularul de contract, atasate. Prin acceptarea achiziției se consideră acceptate cerințele si conditiile din caietul de sarcini si clauzele contractuale din formularul de contract atasate, iar achizitia se va finaliza cu semnarea unui contract de servicii. Astfel, după acceptarea ofertei în SEAP, autoritatea contractanta va transmite operatorului economic, prin email, o invitatie cu detaliile referitoare la semnarea contractului de achiziție publică. Termenul de prestare a serviciilor începe să curgă de la semnarea contractului de către ambele părți. Persoane de contact pentru prestarea serviciilor: Victor Leca - Sef Laborator Tinte.

Achizitii

131.000 RON

Cantitate: 1

Unitate masura: bucata

Servicii de intretinere si mentenanta microscop electronic prin baleiaj Tecsan MAIA 3 si sisteme Bru

Servicii de intretinere si mentenanta microscop electronic prin baleiaj Tecsan MAIA 3 si sisteme Bruker de analiza EDS, EBSD si EBL Se va realiza verificarea tuturor componentelor critice ale microscopului electronic prin baleiaj de electroni, repararea si inlocuirea componentelor cu uzura accentuata astfel incat sa se aduca microscopul la starea de functionare si operare optima. Se vor realiza cel putin urmatoarele activitati: - Verificarea componentelor coloanei microscopului electronic, curatarea si realinierea lor; realinirea fasciculului de electroni; - Verificarea sistemului de transport si transfer al probelor: motorizare, pozitiile de referinta pentru axe, curatarea si inlocuirea componentelor uzate, testarea sistemului de transport post-intretinere; - Verificarea componentelor sistemului de spectroscopie prin dispersie de raze X (EDS): verificarea unitatii de control, verificarea, inspectia si calibrarea detectorului EDS; optimizarea semnalului; - Verificarea componentelor sistemului de difractie de electroni retroimprastiati (EBSD): verificarea unitatii de control, verificarea, inspectia si calibrarea detectorului EBSD; optimizarea semnalului; - Testarea componentei de litografie cu electroni (EBL): aliniere fascicul de electroni, corespondenta aliniere intre structurile realizate in DrawBeam si structurile rezultate in urma procesului de litografie; ajustarea sistemului EBL pentru optimizarea procesului de litografie; - Inspectia sistemului de vid al microscopului electronic: pompa preliminara, pompa turbomoleculara, pompe ionice; inlocuirea si ajustarea componentelor uzate; - se va rezolva problema perioadelor lungi de pompare si a contaminarii accentuate a camerei de analiza.